Strona główna » Rozwój lotniska Szczecin Goleniów tematem spotkania w ZUW

Rozwój lotniska Szczecin Goleniów tematem spotkania w ZUW

by Świnoujście w sieci

Rozwój lotniska Szczecin Goleniów tematem spotkania w ZUW

W Zachodniopomorskim Urzędzie Wojewódzkim odbyło się dziś spotkanie na temat rozwoju i aktualnej sytuacji Portu Lotniczego Szczecin-Goleniów.

W spotkaniu, na zaproszenie wojewody Tomasza Hinca, uczestniczyli wicewojewoda Marek Subocz, marszałek województwa Olgierd Geblewicz, prezydent Szczecina Piotr Krzystek, burmistrz gminy Goleniów Robert Krupowicz, prezes Przedsiębiorstwa Państwowego „Porty Lotnicze” Mariusz Szpikowski oraz prezes Polskiego Holdingu Hotelowego Gheorghe Marian Cristescu.

Przedstawiciele udziałowców w dwugodzinnej rozmowie omówili potrzeby inwestycyjne lotniska i jego aktualną sytuację. Według przygotowanej dla PPL przez firmę ARUP analizy strategicznej możliwości rozwojowych w kontekście budowy Centralnego Portu Komunikacyjnego, w Porcie Lotniczym Szczecin-Goleniów konieczne są inwestycje, które pozwolą na zwiększenie liczby połączeń lotniczych, liczby pasażerów i poprawę komfortu podróży.

Pierwszy etap przedstawionego planu zakłada m.in. wymianę oznakowania i rozbudowę terminala pasażerskiego do 2025 r. Inwestycje pozwolą na zwiększenie liczby obsługiwanych pasażerów z 600 tys. obecnie do 1,5 mln w momencie uruchomienia Centralnego Portu Komunikacyjnego w 2028 r. Zakładany koszt I etapu modernizacji wynosi 83,5 mln zł. W ciągu kolejnych 3 lat od uruchomienia CPK ruch w PL Szczecin-Goleniów może wzrosnąć do 2 mln pasażerów rocznie.

Strony uzgodniły, że kolejne spotkanie przedstawicieli udziałowców spółki Port Lotniczy Szczecin-Goleniów odbędzie się w czerwcu, w siedzibie PPL w Warszawie.

Wojewoda Zachodniopomorski

Fit Babcia robi formę


eswinoujscie w Google News - obserwuj nas - Świnoujście w sieci

Zobacz również

Leave a Comment

1 × pięć =

Witryna wykorzystuje Akismet, aby ograniczyć spam. Dowiedz się więcej jak przetwarzane są dane komentarzy.

Świnoujście w sieci

FREE
VIEW